Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN

Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej jest komitetem naukowym działającym przy Wydziale IV Nauk Technicznych Polskiej Akademii Nauk. Komitet został powołany po raz pierwszy w roku 1968. Pierwotnie funkcjonował pod nazwą Komitet Metrologii. W roku 1972 nastąpiło połączenie Komitetu Metrologii z Komitetem Danych dla Nauki i Techniki. Wówczas przyjęto obecną nazwę Komitetu.

Zakres działania komitetu obejmuje układy i systemy pomiarowe, czujniki pomiarowe, analizę danych, przetwarzanie sygnałów, analizę niepewności wyników pomiarowych, planowanie procesu pomiarowego, modelowanie obiektów i systemów pomiarowych oraz badania symulacyjne.